Unidad Académica: Ciencias Naturales
Unidad de Investigación: FACULTAD DE CS. NATURALES Y MUSEO ; UNIVERSIDAD NACIONAL DE LA PLATA
- Tipo de Equipamiento: SEM
- Equipo: Microscopio Electrónico SEM
- Marca/modelo: Jeol JSM-T100
- Sistema Nacional: Microscopía
- Características y Aplicación:
Observación, toma de micrografías, y secado por punto critico
Contacto
- Responsable: Patricia Laura Sarmiento
- Tel/Cel: (0221) 4257744 int.136
- Correo Electrónico: patsarmi@fcnym.unlp.edu.ar
- Sitio Web: FACULTAD DE CS. NATURALES Y MUSEO ; UNIVERSIDAD NACIONAL DE LA PLATA
- Ubicación: Paseo del Bosque s/n ( -34.90877961000562, -57.935315866678515 )